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元素干扰的预防方法

作者:公司来源:公司 浏览次数: 日期:2016-9-14

元素干扰的预防方法

炉前快速碳硅分析仪能够检测分析钢铁中碳、硅等元素的含量,而这些元素在钢铁中的含量对钢铁的质量和性能有着重要的影响,因此炉前分析十分关键。
     用光谱仪进行元素分析时,当某一元素的谱线用来测量含量,其附近有一条谱线影响时,干扰校准是必须的。如果光谱仪分辨率不能消除这条线的影响,则它将受到干扰,即元素的谱线,测量含量显著增加,原因是存在一个叠加光强值。下面介绍下元素干扰的预防。
     由于存在谱线的重叠现象,
光谱仪生产厂家在制造选择谱线时尽量避开有干扰的元素,消除或减少这种干扰。
元素干扰的预防方法有以下两种:
     1、在待测材料中选择不受干扰的谱线。例如,测量低含量铝时,可选择两条灵敏线,Al线394.4nm396.1nm。其中396.1nm比较灵敏,但受Mo的干扰。因此,往往选择Al394.40nm用来测量钢铁中低含量的Al。一般光谱仪生产厂家都是根据基体材质的情况选择合适的谱线。
     2、用分辨率较大的光谱仪。一般长焦距仪器可具有更大的分辨率,对同一级光谱仪来讲,一台3m的光谱仪分辨率比1m光谱仪更大,但3m2m光谱的焦距比1m光谱仪更大。这样,产生的问题是占据较大的空间,光学系统不够稳定,到达光电倍增管的光强也弱。为了克服这些问题选用衍射光栅的二级谱线。二级谱线的分辨率是一级光谱的两倍。例如入射狭缝为25µm,出射狭缝宽度为88µm,其一级光谱的分辨率为0.0375nm,其二级光谱为0.0188nm。若入射狭缝宽度为10µm,其二级光谱的分辨率为0.0058nm
     一般来讲随着光谱的级数增加,能量逐渐降低。在不是闪耀区域,二级谱线的强度,只是一级光谱强度的0.25倍。选用刻线为1440/mm凹面光栅这是光谱波长范围和分辨率的主要因素。光谱仪包括了全部待测元素最灵敏的波长。一级谱线波长范围346.0-767.0nm,其中包括NaLiK的灵敏线。并在光学设计上没有附加光路,波长愈长,干扰愈小。二级光谱波长范围是173.0-383.5nm,包括PSB等元素在其区域的灵敏线。此区域有发射光谱较佳的谱线和较好的分辨率。
   
 炉前快速碳硅分析仪,以上为光谱分析中元素干扰及预防干扰的相关介绍,做好这些工作,对于提高光谱分析的准确度具有重要意义,免费咨询热线:400-680-6358

 

南京宁博分析仪器有限公司

2016.9.14

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该资讯的关键词为:元素分析仪  多元素分析仪